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REM Mikroskopie und EDX Analyse

Für die Feinanalyse von Oberflächen, Frakturen und Querschnitten nutzen wir ein Carl Zeiss Gemini Rasterelektronenmikroskop (REM). So kann man Schichten und Substrate mit bis zu 20.000 facher Vergrößerung betrachten.

Dem REM ist ein EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) beigestellt, so können die chemische Zusammensetzung der Schichten, andere Materialien und die Oberfläche genauestens determiniert werden.